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更新時(shí)間：2019-06-05
點(diǎn)擊次數(shù)：2018
品牌：和晟【HESON】
型號(hào)：HS-SZH系列
品名：三綜合試驗(yàn)箱
溫馨提示
產(chǎn)品圖片、屬性及價(jià)格等僅供參考，詳情請(qǐng)來(lái)電或旺旺咨詢！
非標(biāo)產(chǎn)品，所標(biāo)價(jià)格為【定金】
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
本產(chǎn)品是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn)，以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù)
1、工作室尺寸 | 3000×3000×3000mm (深×寬×高) |
2、外形尺寸 | 根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)安裝確定尺寸 |
3、溫度范圍 | -50℃～+130℃ |
| 4、溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ |
| 5、溫度均勻度 | ≤±2℃ |
| 6、溫度偏差 | ≤±2℃ |
| 7、升溫速率 | -50℃到130℃，≤60min（全程平均值） |
| 8、降溫速率 | 20℃到-50℃，≤80min（全程平均值） |
9、濕度范圍 | 20%R.H～98%R.H |
10、濕度偏差 | ≤±3%RH (>75%RH) ；≤±5%RH (≤75%RH) |
| 11、濕度波動(dòng)度 | ≤±2%RH |
| 12、配接振動(dòng)臺(tái)尺寸 | 1200mm×1200mm |
| 13、滿足標(biāo)準(zhǔn) | GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB10592-2008高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cab： 恒定濕熱試驗(yàn)方法； GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Db： 交變濕熱 |
| 14、驗(yàn)收方法及依據(jù) | GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則； GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備； GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕度試驗(yàn)設(shè)備； GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備； GB/T5170.19-2005電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備； JJF1270-2010 溫度、濕度、振動(dòng)綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范； JJF1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范。 |
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